先说说这个晶振,做电子的都不会陌生。但是想更深入的了解晶振,我这里可以和大家讨论讨论。

        说这个晶振一般按照供电不供电,分为:有源晶振和无源晶振。这里我测量的是有源晶振。

        无源晶振,即为晶体。关于石英晶体,其实在我们所学的《电子技术基础 模拟部分》(模电)中,在讲解信号产生电路中有所提及,对于这一部分,不是特别的详析,但是仔细研读,也会叫我们对晶体有了初步的认识。也提及到,使用石英晶体振荡电路主要是因为它具有极高的“频率稳定度”。说起石英晶体就是SiO2。

        有源晶振,相对于无源晶振有了进一步的改善,增加了一部分控制电路,从一定角度来说也是提高他的频率稳定度。简单说就是一个晶体+一个补偿电路。而补偿电路一般都是需要供电的,所以就有源了。

        对于使用者来说,这些也许都不是最重要的,范伟不是说了么,“我不想知道我是怎么来滴,我就想知道怎么没滴“。那我就说说大家关心的。有源晶振在选型时候所关心的一些技术指标。当然,有源晶振也分为多种,比如什么钟振,TCXO,VCXO,OCXO等等吧,我这里只说说TCXO。

        TCXO的主要参数:首先是温度范围、频率、频率稳定度(+-?ppm)、稳定时间、启动功耗、静态功耗、老化率、相噪(回头我给大家说说如何测量相噪)。还有我就不一一例举了。忘了一个重要的,封装尺寸(7050、5032、3225、2018)等等吧。

        使用中一般会遇到的问题,1、输入电源部分一定要滤波,2、电路设计中如果晶振附近有发热元件,可以将晶振下方所有层的铺铜挖掉,减少热传导。3、千万不要晶振上方有气体流动(比如风扇,或者你闲的吹口气),尤其是有源晶振,不然频率会有很大抖动。具体解释,要分析TCXO工作原理了。想知道的可以问我。这里不解释。

        说了半天没有上正题,拿到一个晶振,我们如何来测量呢?不测就不知道性能如何。

        比较准确的测量方法:首先要有一个简易的推荐测试电路,按照一般晶振的推荐电路焊接得到。然后有一个电源,给晶振供电。最后是使用频谱仪或者频率计测量实际频率以及频偏。

        上图是我当时测量时所记录,保证真实。

 

        这个是我当时操作的板子,有点丑,不过能用。

        使用频率计(也有人叫 计数器),测量就比较简单了,直接捅上就可以有读书了。

        使用频谱仪,首先要设置扫描宽度,还有中心频率。开始呢可以把扫描宽度设置的稍微大一些,等发现以后再慢慢将扫描宽度减小。开始我测得时候还想呢,哎?怎么频谱仪不能测量这东西呢,精度不够啊。只能显示到百赫兹。困惑了我好几秒钟,后来发现扫描带宽可以越窄越是精度高,设置的问题。这两种手段都是相当准的。

        图片展示,使用的仪器,还有就是测量的结果。

计数器:Agilent 53132A

频谱仪:Agilent N9010A

        这两个是测量的10M的信号源。只做展示了。希望对大家有所帮助。